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产品描述
仪器简介:
Cascade Microtech 的 EPS系列测量平台是一款结构简单、高精确度、多功能、及高性价比的150mm基准的探针台,解决了一系列的测量难题。该探针台采用了一种模块化设计,提供了众多的配置可能性,旨在满足诸如单切晶片至 150mm 晶圆、模块、印刷电路板组件和微流体芯片等多种器件的精密电测量的需要。您可以通过确定*适合自己当前需要的 EPS模块来设计特有的探针台,或对自己现有的 EPS进行升级以满足未来的测量需求。
优越的应用灵活性使得EPS能满足DC和RF测量、器件和晶圆表征测试(DWC)、失效分析(FA)、亚微米探测、MEMS和光学工程测量;EPS也能用作一个灵活的探头卡,实现wafer级的可靠性应用(WLR),能同时配备多达20个探针座。
技术参数:
基座 基本尺寸 Z轴可移动范围
标准平台 490mm x 490mm×480mm 10mm
X-Y-θ平台 XY范围 *小步长 θ范围 晶圆范围
EP6标准平台 155mm x 155mm 5μm 360° 6寸
主要特点:
1. 结构简单、多功能;
2. 平台配置可满足DC、RF测量;
3. 独特的模块化设计可根据客户的需要配置和升级;
4. 量程大、可配暗箱、CCD等配件;
扩展功能:
1、射频头部;
2、探针卡端口;(出厂前配置)
3、光电屏蔽箱;
4、CCD视频系统;
5、温控模块;(常温-300℃可选)
6、EPS_FA可配置激光等。