手机版 |
产品分类 |
光学仪器及设备
Norcada电镜原位偏压加热系统
NenoVision原位原子力显微镜LiteScope
filmetrics台式膜厚测试仪F20
nGauge便携式原子力显微镜
MVI散射式扫描近场光学显微镜
高分辨可视化单分子操纵的荧光显微镜光镊
MVI原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统
光学/探针显微镜
激光共聚焦显微镜
安捷伦桌面场发射台式扫描电镜8500
比表面积测定仪
KLA高温原位纳米压痕仪I nSEM HT
KLA Gemini压痕力学测试系统
KLA纳米压痕原位力学测试模块NanoFlip
NMI iNano桌面式纳米压痕
NMI iMicro桌面式微米压痕原位力学
KLA纳米压痕仪Nano Indenter G200
FemtoTools纳米机械手
FemtoTools微纳力学、机械性能测试,微纳操纵系统
测量/计量仪器
LUMINA光学表面缺陷分析仪
KLA-Tencor先进的探针式台阶仪
白光共轭焦轮廓仪
激光扫描轮廓仪
Kosaka小板台阶仪ET200
其他
HP 1510智能微波消解仪
SURFACE超高真空PLD激光镀膜系统
物理基础教学计算机控制教学三维演示系统
NGD-01型自动凝固点测定仪
MPD-01型金属相图测定仪
光谱检测分析仪
MVI Vista-IR纳米红外成像与光谱
纳米easy peak拉曼增强衬底(SERS)
拉曼增强试剂(SERS基底)
光纤光谱仪
多功能光纤干涉教学实验仪
制样/消解设备
全息纳米光刻图案化平台
高分辨率纳米压印模板
纳米压印胶
Imprint Nano纳米压印
分子生物学仪器
SPRm 200表面等离子体共振显微镜
BI-2500小型台式表面等离子体共振仪
BI-4500表面等离子体共振仪
氧化铝纳米多孔膜
半导体行业专用仪器
Elionix离子束刻蚀系统
Elionix电子束曝光系统
美国Cascade EPS探针台
激光粒度仪
IKOsizer便携式粒度仪
IKOsizer粒度仪
相关仪表
SHNTI-5510自吸附胶盒
测厚仪
FR便携式膜厚测定仪
X射线仪器
InnvoX台式/便携式X射线衍射仪
成像系统
声镊谱仪
清洗/消毒设备
紫外臭氧清洗仪
实验室家具
日本原装AVT系列防震平台
试验机
Agilent UTM T150纳米拉伸试验机
联系方式 |
产品系列
产品描述
仪器简介
ANASYS公司长期致力于纳米热学分析领域,开发出了多种新颖的、易操作的研究和分析仪器。基于多年累积的纳米热学**技术,ANASYS又推出了一款**的测试技术仪器——Nano-IR纳米级红外光谱仪。突破了传统的傅里叶红外光谱(FT-IR)及衰减全反射红外光谱(ATR-IR)的分辨局限,让用户可以获得纳米尺度上的红外光谱分析、热分析、扫描探针成像和热力学性能测试。
技术参数
主要技术参数
光谱范围:1200-1600cm-1
光谱分辨率:<16cm-1
**图像尺寸:100μm×100μm
光谱采集时间:≤1min
主要特点
① 与“远场”光学相比,改技术的特点在于吸收的辐射可以通过尖端近场的尖端得到测量。
② PTIR技术可以实现纳米级红外并获得样品的化学性质。
③ 接触共振获得样品的力学性质。
④ 通过原子力显微镜(AFM)获得高分辨率的样品三维相貌图。
⑤ 纳米热学分析获得样品的热量传输温度。
⑥ Nano-IR操作软件能够自动的跟踪并且可以让用户便捷的获得样品任
意位置的红外吸收光谱。