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产品描述
Scanning Thermal probe system热扫描探针系统,可以和任何主流的的AFM进行联用。可以同时获得形貌 & 纳米尺度的热导率以及温度分布,非常适合应用在纳米线/碳纤维/聚合物复合材料等领域
模块性能:
可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试
1) 温度;
2) 温度梯度变化曲线;
3) 定性热导率;
4) 相变温度;
5) 定性热容量;
模块优势:
1)高性价比,能实现热学扫描及热学性质测试的功能,价格仅为其为同类产品的一半;
2)精细测量,能达到20nm区域测温;
3)耐高温,针尖在700℃高温下也不易变形;
模块扫描机制:
目前国内的国家纳米科学中心,中山大学,美国希捷硬盘公司在华的工厂均采购了这个模块。
以下是一些典型的SThM热导率测试以及温度分布的测试案例:
1)左半部分纳米线的形貌图以及温度分布的对应,右半部分为碳膜/Bi2Te3(热电材料)的形貌图以及热导率图对应。
2)碳纤维与环氧树脂复合材料形貌与热导率对应
3)聚合物纤维PCL-Coll_形貌与温度分布对应